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粉末衍射法测定晶体结构(套装上下册)书籍详细信息
- ISBN:9787030304735
- 作者:暂无作者
- 出版社:暂无出版社
- 出版时间:2011-3
- 页数:696
- 价格:98.00元
- 纸张:暂无纸张
- 装帧:暂无装帧
- 开本:暂无开本
- 语言:未知
- 丛书:暂无丛书
- TAG:暂无
- 豆瓣评分:暂无豆瓣评分
内容简介:
《粉末衍射法测定晶体结构(第2版)(套装上下册)》简要介绍了X射线衍射的晶体学基础、化合物结构的晶体化学基础概念、X射线粉末衍射的实验方法和衍射强度的测量。系统全面地论述了粉末衍射图谱的指标化、点阵常熟的精确测量以及新型化合物晶体结构测定的各种方法。
书籍目录:
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作者介绍:
2003年4月第1版 2011年3月第2版,有2012年1月3印本
出版社信息:
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书籍摘录:
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原文赏析:
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其它内容:
书籍介绍
《粉末衍射法测定晶体结构(第2版)(套装上下册)》简要介绍了X射线衍射的晶体学基础、化合物结构的晶体化学基础概念、X射线粉末衍射的实验方法和衍射强度的测量。系统全面地论述了粉末衍射图谱的指标化、点阵常熟的精确测量以及新型化合物晶体结构测定的各种方法。
书籍真实打分
故事情节:5分
人物塑造:7分
主题深度:9分
文字风格:3分
语言运用:8分
文笔流畅:6分
思想传递:3分
知识深度:8分
知识广度:6分
实用性:7分
章节划分:7分
结构布局:3分
新颖与独特:4分
情感共鸣:7分
引人入胜:7分
现实相关:6分
沉浸感:5分
事实准确性:9分
文化贡献:9分
网站评分
书籍多样性:4分
书籍信息完全性:6分
网站更新速度:3分
使用便利性:3分
书籍清晰度:3分
书籍格式兼容性:4分
是否包含广告:5分
加载速度:4分
安全性:9分
稳定性:8分
搜索功能:6分
下载便捷性:5分
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